EN 60749-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-04 02:57:00 浏览:9623
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part5:Steady-statetemperaturehumiditybiaslifetest(IEC60749-5:2003);GermanversionEN60749-5:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:EN60749-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;元部件;寿命;温度试验;试验;集成电路;电子工程;气候试验;电气工程;半导体器件;气候;环境试验;机械试验;电学测量;电子设备及元件;水分检验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Life(durability);Mechanicaltesting;Moisturetest;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperaturetest;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:EN60749-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;元部件;寿命;温度试验;试验;集成电路;电子工程;气候试验;电气工程;半导体器件;气候;环境试验;机械试验;电学测量;电子设备及元件;水分检验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Life(durability);Mechanicaltesting;Moisturetest;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperaturetest;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语
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